制程简介: Wafer料带自动进料、来料检测、不良品裁切、Wafer连料点裁切、成品CCD检测、 自动包装
功能和特点: ▶ Wafer来料采用智能影像系统检测,不合格品提前裁切并排出。 ▶ 采用高精密裁切模具,冲裁宽度仅0.2mm ▶ 智能影像系统对产品的组装尺寸和外观进行检测。 ▶ 成品通过机械手自动装入包装盘。
WAFER 组装生产线
Wafer裁切包装检测生产线